DDR内存条测试座

适用于DDR3,DDR4，DDR5,内存条颗粒测试

用于芯片的快速筛选，验证，测试，

采用手动翻盖式结构，操作方便高效.

测试不同尺寸的颗粒，更换限位框即可

可选探针和导电胶结构

探针可更换，维修方便，成本低